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晶体管特性图示仪



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产品简介

晶体管特性图示仪采用示波管显示半导体器件的各种特性曲线。本仪器具有二簇曲线显示，双向集电极扫描功能，可以对被测半导体器件的特性进行对比分析，便于晶体管的配对。设有5kV高压装置。本仪器适用于各种半导体三极管、二极管、场效应管、可控硅、稳压二极管、及三端稳压器等器件的测试。



技术参数

Ｙ轴偏转因数：

集电极电流范围(IC)0.5μA/div—1A/div  分２０档 

(IR)50nA/div—1μA/div  分５档

基极电流或基极源电压(　  )0.01V/div

外接输入0.01V/div

Ｘ轴偏转因数：

集电极电压范围(VC)10mV/div—50V/div  分12档

(VD) 500V/div

基极电流或基极源电压(     )0.01V/div

外接输入    0.01V/div 

阶梯信号

阶梯电流范围：0.5μA/级--100mA/级  分17档

阶梯电压范围：0.05V/级—1V/级     分5档

串联电阻：O、10KΩ、1MΩ          分３档

每簇级数：1—10级 连续可调。

每秒级数：200

极性：正、负、异   分三档。

集电极扫描信号

峰值电压范围及电流容量：

0—10V档       (10A)

0—50V档      (1A)

0—100V档     (0.5A)

0—500V档    (0.1A) 

0—5KV档      (5mA)

0--500VAC档   (0.1A)

功耗限制电阻： 0~500KΩ     分11档

一般性能

形式：卧式

外形尺寸：320×210×400(mm)

重量：约18kg

电源电压：220V±10%

频率： 50Hz±5%

视在功率：非测试状态   约50VA

最大功率：约80VA



注：以上信息及技术参数来源于扬州达瑞电气有限公司整理发布